Descrição:
Os espectrômetros de fibra óptica da LAM Research são dispositivos de monitoramento óptico de alta precisão integrados para equipamentos de processamento de wafers semicondutores. Principalmente acoplados a módulos ópticos profissionais, adotam um design de transmissão por fibra óptica para capturar emissão de plasma, espectros de reflexão e transmissão dentro das câmaras de processo. Amplamente utilizados para detecção de ponto final de corrosão (etch endpoint), metrologia de filmes finos e monitoramento em tempo real das condições de plasma, essas unidades garantem desempenho de processo estável, melhoram o rendimento de produção e reduzem produtos defeituosos em processos de gravação, CVD, PVD e outros procedimentos de fabricação a vácuo. Como componentes compatíveis OEM originais, apresentam excelente compatibilidade e confiabilidade de longo prazo para ferramentas de processo da série completa da LAM.
Especificações principais:
- Equipados com detectores CCD/PMT de alta sensibilidade, oferecendo excelente resolução espectral e baixo ruído. Cobre a faixa de comprimento de onda UV-visível para atender às diversas demandas de monitoramento de processos de semicondutores.
- Interfaces de fibra SMA padrão suportam transmissão de sinal a longa distância. Sondas compatíveis com vácuo funcionam de forma estável em ambientes de alto vácuo, alta temperatura e plasma.
- A análise espectral em tempo real permite julgamento preciso do ponto final de corrosão (etch endpoint), medição da espessura de filmes finos e das propriedades ópticas, evitando efetivamente sobre-etching e under-etching.
- Portas de comunicação Ethernet e RS-232 integradas, totalmente compatíveis com os protocolos dos equipamentos LAM para interação de dados e integração de sistemas sem interrupções.
- Estrutura compacta e robusta com capacidade anti-vibração e anti-interferência. Suporta operação contínua 24/7 e substituição fácil no local.
Aplicações típicas:
- Sistemas de gravação por plasma, equipamentos de deposição de filmes finos CVD, PVD e ALD
- Detecção de ponto final em processos de gravação de wafers
- Medição in situ da espessura de filmes finos e refletância
- Análise em tempo real do estado do plasma em câmaras de processo a vácuo
- LAM Research 2300, 9400, ExAL e outras plataformas de processo principais
FAQ:
Q1: Qual é a condição do produto e como funciona a garantia?
R: Itens originais novos. Garantia de 1 ano incluída.
Q2: Quais são as condições de pagamento?
R: T/T, Paypal suportados.
Q3: Qual é o prazo de entrega do produto? Há estoque suficiente?
R: Modelos padrão em estoque, enviados em 3–5 dias úteis após o pagamento. Modelos escassos exigem pedido ao fabricante — entre em contato com o atendimento ao cliente para prazos.
Q4: Envio e rastreamento
R: DHL/FedEx/UPS disponíveis. Número de rastreamento + link fornecidos após o envio. Monitoramento de todo o processo pela nossa equipe.
Q5: Embalagem e segurança
R: Embalagem original da marca com proteção reforçada (espuma, caixas seladas, caixas de madeira para equipamentos de precisão). Resistente à umidade e impactos.